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  • 半導(dǎo)體封裝材料高低溫絕緣電阻測試系統(tǒng)
    半導(dǎo)體封裝材料高低溫絕緣電阻測試系統(tǒng)

    更新時間:2025-08-01

    型號:

    瀏覽量:5284

    半導(dǎo)體封裝材料高低溫絕緣電阻測試系統(tǒng)華測儀器通過多年研究開發(fā)了一種可實現(xiàn)高的精度溫控,高屏蔽干擾信號的循環(huán)熱風(fēng)加熱方式,在高速加熱及高速冷卻時,具有均勻的溫度分布。 可實現(xiàn)寬域均熱區(qū),高速加熱、高速冷卻 ,加熱箱體整體密封,無氣氛污染。
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  • HC-TSDC環(huán)氧塑封料TSDC測試系統(tǒng)
    HC-TSDC環(huán)氧塑封料TSDC測試系統(tǒng)

    更新時間:2025-09-17

    型號:HC-TSDC

    瀏覽量:4680

    環(huán)氧塑封料TSDC測試系統(tǒng),熱刺激去極化電流(TSDC)技術(shù)用于預(yù)測EMC的HTRB性能。TSDC方法包括極化過程,在該過程中,電介質(zhì)樣品暴露在高電場強度和高溫環(huán)境下。在這種情況下,電荷被分離并在介電材料電子元件中移動。
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  • HC-TSC半導(dǎo)體封裝材料高壓TSDC測試系統(tǒng)
    HC-TSC半導(dǎo)體封裝材料高壓TSDC測試系統(tǒng)

    更新時間:2025-09-17

    型號:HC-TSC

    瀏覽量:2099

    半導(dǎo)體封裝材料高壓TSDC測試系統(tǒng)熱刺激去極化電流(TSDC)技術(shù)用于預(yù)測EMC的HTRB性能。TSDC方法包括極化過程,在該過程中,電介質(zhì)樣品暴露在高電場強度和高溫環(huán)境下。在這種情況下,電荷被分離并在介電材料電子元件中移動。
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  • SIR-450半導(dǎo)體寬溫絕緣電阻測試系統(tǒng)
    SIR-450半導(dǎo)體寬溫絕緣電阻測試系統(tǒng)

    更新時間:2026-06-09

    型號:SIR-450

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    華測儀器SIR-450半導(dǎo)體寬溫絕緣電阻測試系統(tǒng)采用Huacepro智能軟件,符合功能材料的各項測試需求,具備穩(wěn)定性與操作防護性,并具備斷電資料的保存功能,圖像資料也可保存恢復(fù)。
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  • SIR-450半導(dǎo)體材料高低溫絕緣電阻率測試系統(tǒng)
    SIR-450半導(dǎo)體材料高低溫絕緣電阻率測試系統(tǒng)

    更新時間:2026-06-09

    型號:SIR-450

    瀏覽量:92

    華測儀器SIR-450半導(dǎo)體材料高低溫絕緣電阻率測試系統(tǒng)環(huán)氧塑封料(EMC)對高功率半導(dǎo)體器件的高溫反向偏壓(HTRB)性能有重要控制作用,設(shè)備主要用于預(yù)測EMC的HTRB性能。
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  • SIR-450寬溫半導(dǎo)體絕緣性能測試設(shè)備
    SIR-450寬溫半導(dǎo)體絕緣性能測試設(shè)備

    更新時間:2026-06-09

    型號:SIR-450

    瀏覽量:84

    華測儀器SIR-450寬溫半導(dǎo)體絕緣性能測試設(shè)備用于預(yù)測EMC的HTRB性能,環(huán)氧塑封料對高功率半導(dǎo)體器件的高溫反向偏壓(HTRB)性能有重要控制作用。
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  • Huace-TSDC熱激勵去極化電流測試系統(tǒng)
    Huace-TSDC熱激勵去極化電流測試系統(tǒng)

    更新時間:2026-05-07

    型號:Huace-TSDC

    瀏覽量:381

    華測儀器Huace-TSDC熱激勵去極化電流測試系統(tǒng),TSDC是一種研究電荷存儲特性的試驗技術(shù),用于確定初始電荷和捕獲電荷的活化能以及弛豫。
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  • SIR-450半導(dǎo)體材料寬溫域絕緣電阻測試系統(tǒng)
    SIR-450半導(dǎo)體材料寬溫域絕緣電阻測試系統(tǒng)

    更新時間:2026-04-15

    型號:SIR-450

    瀏覽量:346

    華測儀器SIR-450半導(dǎo)體材料寬溫域絕緣電阻測試系統(tǒng)在電子產(chǎn)品中,電容器、電阻器、半導(dǎo)體器件等需要在不同溫度下進行試驗,以評估其性能和可靠性。
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