華測儀器SIR-450寬溫半導體絕緣性能測試設備

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SIR-450寬溫半導體絕緣性能測試設備由華測儀器生產，高低溫環境下的絕緣電阻測試技術用于預測EMC的HTRB性能。電介質樣品暴露在高電場強度和高溫環境下，在這種情況下，高分子聚合物材料在高溫環境下具有負阻性的特征，電阻（率）隨著溫度的上升而下降，HTRB性能之間的相關性表明，隨著溫度的上升電阻率越下降嚴重，而HTRB性能越差，因此，材料的電阻率是HTRB失效測量的一個測量手段。

產品參數

1.溫度范圍：-100 ~ 350°C

2.控溫精度：0.5°C

3.升溫斜率：10℃/min（可設定）

4.電阻：1×10¹⁶Ω

5.電阻率：1×10³Ω ~ 1×10¹⁶Ω

6.輸入電壓：220V

7.樣品尺寸：φ ＜25mm，d ＜4mm

8.電極材料：黃銅

9.夾具輔助材料：99氧化鋁陶瓷

10.絕緣材料：99氧化鋁陶瓷

11.測試功能：高低溫電阻率

華測儀器的業務涵蓋從單臺測試設備供應到整體實驗室規劃建設的全過程。建設絕緣材料或功能材料電性能檢測實驗室，華測儀器可提供從方案設計到交付驗收的完整服務。