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標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備

電壓擊穿測試儀耐電弧試驗儀高壓、低壓漏電起痕表面體積電阻率（高阻計）電弱點試驗儀 50點耐壓測試儀

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Huace-300華測固體絕緣材料表面電阻率測試儀

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華測固體絕緣材料表面電阻率測試儀標(biāo)準(zhǔn)GB/T 1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗方法》和ASTM D257《絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗方法》等標(biāo)準(zhǔn)的要求。本儀器既可測量高電阻，又可測微電流。測量精度達(dá)到3‰。同時儀器體積小、重量輕、本儀器具有精度高、顯示迅速、性好穩(wěn)定、讀數(shù)方便等優(yōu)點。
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HCDH-Ⅲ耐電弧試驗儀符合國標(biāo)GB/T1411-2002

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耐電弧試驗儀符合國標(biāo)GB/T1411-2002，《干固體絕緣材料耐高電壓、小電流電弧放電的試驗》符合IPC650、IEC61621、ASTMD495及JEC149、UL746A試驗方法。適應(yīng)于電機(jī)、電器及家電等行業(yè)的電工用塑料、樹脂膠、絕緣漆、以及層壓板、覆銅箔板等絕緣材料等介質(zhì)的耐電弧測試
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型號：HCRD-300

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Huace-300電力絕緣材料表面體積電阻分析儀

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型號：Huace-300

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華測儀器HCDH-4固體絕緣材料耐電弧試驗設(shè)備適用于電氣絕緣材料、塑料、薄膜、樹脂、云母、陶瓷、玻璃、絕緣漆等的耐電弧性能。
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Huace-300表面體積電阻綜合測試儀

更新時間：2026-08-13

型號：Huace-300

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HCLD-2塑料漏電起痕老化試驗設(shè)備

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華測儀器HCLD-2塑料漏電起痕老化試驗設(shè)備用以評價固體絕緣材料表面在電場和潮濕或污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐漏電性能，測定其相比電痕化指數(shù) (CTI) 和耐電痕化指數(shù)(PTI) 。
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