華測儀器HCRD-300L卷狀絕緣膜電弱點缺陷檢測設(shè)備

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HCRD-300L卷狀絕緣膜電弱點缺陷檢測設(shè)備由華測儀器生產(chǎn)，主要用于電容器用聚脂薄膜、聚丙稀薄膜的電弱點測試，測試數(shù)據(jù)能真實地反映薄膜的質(zhì)量水平。具有可靠性、耐用性和穩(wěn)定性，測試過程采用電子技術(shù)全自動控制，遇到電弱點時電壓切斷動作迅速，擊穿電流在0～40mA連續(xù)可調(diào)，復現(xiàn)性好。本機具備多重保護功能，為操作人員及設(shè)備提供保護，如過壓、過流、接地保護，試驗平臺門開啟保護。電弱點測試儀由PLC、伺服電極、電壓發(fā)生器、工控機、減速機、阻尼裝置、壓力裝置等組成，可實現(xiàn)自動化測試。

產(chǎn)品優(yōu)勢

1.TVS瞬間防護技術(shù)

2.多級循環(huán)電壓采集技術(shù)

3.低通濾波電流監(jiān)測技術(shù)

4.雙系統(tǒng)互鎖技術(shù)及隔離阻攔技術(shù)

軟件功能

操作系統(tǒng)：支持XP，win7,win8系統(tǒng)，操作人性化；

實時監(jiān)測：在實驗過程中可以動態(tài)顯示電弱點數(shù)量、膜移動距離等；

數(shù)據(jù)導出：試驗結(jié)果方便導出。

實驗報告：自定義報告名稱，并對實驗報告進行打印；

試驗方式：直流試驗和交流試驗、進行選擇；

參數(shù)設(shè)置：可以根據(jù)不同的試驗方式及試驗方法靈活設(shè)置所需的不同參數(shù)值；

校準功能：可針對設(shè)備進行校準設(shè)置；

支持標準：支持國標及IEC標準；