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標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備

電壓擊穿測試儀耐電弧試驗儀高壓、低壓漏電起痕表面體積電阻率（高阻計）電弱點試驗儀 50點耐壓測試儀

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Huace-300華測固體絕緣材料表面電阻率測試儀

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型號：Huace-300

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華測固體絕緣材料表面電阻率測試儀標(biāo)準(zhǔn)GB/T 1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗方法》和ASTM D257《絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗方法》等標(biāo)準(zhǔn)的要求。本儀器既可測量高電阻，又可測微電流。測量精度達到3‰。同時儀器體積小、重量輕、本儀器具有精度高、顯示迅速、性好穩(wěn)定、讀數(shù)方便等優(yōu)點。
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HCDH-Ⅲ耐電弧試驗儀符合國標(biāo)GB/T1411-2002

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型號：HCRD-300

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型號：HCLD-2

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型號：Huace-300

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Huace-300絕緣材料表面體積電阻測定儀

更新時間：2026-06-10

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華測儀器Huace-300絕緣材料表面體積電阻測定儀采用低溫漂系數(shù)極低的電阻，既可測量高電阻，又可測微電流。
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HCLD-2CTI 絕緣材料低壓漏電起痕測試系統(tǒng)

更新時間：2026-05-09

型號：HCLD-2

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華測儀器HCLD-2 CTI 絕緣材料低壓漏電起痕測試系統(tǒng)用以評價固體絕緣材料表面在電場和潮濕或污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐漏電性能，測定其相比電痕化指數(shù) (CTI) 和耐電痕化指數(shù)(PTI) 。
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