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• 2026

  8-13
  模擬濕熱偏壓工況！絕緣電阻劣化（離子遷移）綜合測試解決方案

  隨著電子器件持續向小型化、高密度集成方向發展，高溫高濕疊加電場作用引發的離子遷移、絕緣電阻衰減等問題愈發突出，對產品長期服役穩定性構成挑戰。針對行業測試痛點，華測儀器推出絕緣電阻劣化（離子遷移）測試系統，可開展溫濕度偏壓、電化學遷移、表面絕...

• 2026

  8-13
  HCRD-300L 電弱點試驗儀：卷狀薄膜材料連續檢測方案

  高分子絕緣薄膜生產過程中形成的雜質、局部薄化等微觀問題，是影響高壓工況下局部電場畸變、介質擊穿與終端產品失效的關鍵誘因。華測儀器HCRD-300L系列電弱點試驗儀面向電容薄膜、鋰電池隔膜等卷材質檢需求，實現整卷卷材不間斷連續檢測，試樣無需提...

• 2026

  8-12
  HCMP 多通道介電電阻測試模塊：多通道并行測試解決方案

  華測儀器HCMP多通道介電電阻測試模塊，標配10路單獨測試通道，同時支持通道數量定制擴容，可同步開展多組試樣平行對照試驗，適合長期電熱老化試驗配套在線監測，完成多試樣同步比對測試。模塊搭載高速光耦繼電器，通道切換時間低至1ms；通道之間絕緣...

• 2026

  8-11
  固體絕緣材料耐漏電性能檢測：HCLD-2 試驗儀在 CTI 與 PTI 測試中的應用

  華測儀器HCLD-2低壓漏電起痕試驗儀是為固體絕緣材料耐漏電起痕性能檢測而設計，可準確測定材料相比電痕化指數（CTI）與耐電痕化指數（PTI），普遍應用電工塑膠、絕緣復合材料、電器零部件等材料性能評估。設備搭載濾波、隔離、穩壓三重變壓器架構...

• 2026

  8-10
  矩陣式50點電極法測試系統｜絕緣薄膜耐壓擊穿檢測方案

  華測儀器50點電極法測試系統采用矩陣式50組單獨測試電極陣列設計，電極排布科學合理，保障測試區域電場分布均勻一致，設備支持一鍵自動化流程執行，可批量同步完成50個點位的耐壓、擊穿性能測試，同時兼容單點單獨測試模式，靈活滿足大批量篩查與單點準...

• 2026

  8-7
  HCDH4 耐電弧試驗儀：賦能固體絕緣材料耐電弧性能檢測

  華測儀器HCDH-4耐電弧試驗儀，是為多種固體絕緣材料開展耐電弧性能檢測而設計，可模擬高壓電弧作用工況，評估絕緣材料在高壓電弧灼燒下的耐受能力，普遍應用于電工絕緣材料、塑膠、復合材料等樣品的耐電弧性能評價試驗。整機配置可視化狀態指示燈帶，設...