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電壓擊穿測試儀耐電弧試驗儀高壓、低壓漏電起痕表面體積電阻率（高阻計）電弱點試驗儀 50點耐壓測試儀

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HCLD-III觸摸屏高壓漏電起痕試驗裝置測試儀器

更新時間：2024-06-05

型號：HCLD-III

瀏覽量：1950

觸摸屏高壓漏電起痕試驗裝置測試儀器根據GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數和相比電痕化指數的測定方法》，UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等標準規定的模擬試驗項目。
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HCLD-III電痕化漏電起痕試驗儀測試儀器

更新時間：2024-06-05

型號：HCLD-III

瀏覽量：1911

電痕化漏電起痕試驗儀測試儀器是根據GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數和相比電痕化指數的測定方法》，UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等標準規定的模擬試驗項目。
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HCLD-III電工電子漏電起痕試驗儀/測試儀器

更新時間：2024-06-05

型號：HCLD-III

瀏覽量：2553

電工電子漏電起痕試驗儀/測試儀器是根據GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數和相比電痕化指數的測定方法》，UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等標準規定的模擬試驗項目。
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HCLD-III電氣絕緣材料漏電起痕試驗儀

更新時間：2024-06-05

型號：HCLD-III

瀏覽量：2052

電氣絕緣材料漏電起痕試驗儀是根據GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數和相比電痕化指數的測定方法》，UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等標準規定的模擬試驗項目。
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HCLD-III控制精密漏電起痕試驗儀測試儀器

更新時間：2024-06-05

型號：HCLD-III

瀏覽量：1942

控制精密漏電起痕試驗儀測試儀器是根據GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數和相比電痕化指數的測定方法》，UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等標準規定的模擬試驗項目。
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HCLD-III高壓漏電起痕試驗儀測試儀器

更新時間：2025-07-29

型號：HCLD-III

瀏覽量：2182

高壓漏電起痕試驗儀測試儀器，是根據GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數和相比電痕化指數的測定方法》，UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等標準規定的模擬試驗項目。
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HCDH-200、300耐漏電起痕試驗儀測試儀器

更新時間：2023-08-03

型號：HCDH-200、300

瀏覽量：2288

耐漏電起痕試驗儀測試儀器：耐漏電起痕試驗儀是根據GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數和相比電痕化指數的測定方法》，UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等標準規定的模擬試驗項目。
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耐漏電起痕HCDH-200測試儀器

更新時間：2023-08-03

型號：

瀏覽量：2681

耐漏電起痕HCDH-200測試儀器：耐漏電起痕試驗儀是根據GB4706.1-2008GB4207-2003GB/T6553-2003IEC60112-2003《固體絕緣材料耐電痕化指數相比電痕化指數的測定方法》，UL746A、ASTMD3638-92、DIN53480等標準規定的模擬試驗項目。
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