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當(dāng)前位置：首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > 新品推薦 > 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) > HCCT-40H電容器溫度 - 頻率特性評(píng)估系統(tǒng)簡(jiǎn)要描述：華測(cè)儀器HCCT-40H電容器溫度 - 頻率特性評(píng)估系統(tǒng)可從不同測(cè)試模式選擇溫度特性評(píng)價(jià)試驗(yàn)、恒定運(yùn)行試驗(yàn)和頻率特性試驗(yàn)。測(cè)試可與溫度特性評(píng)價(jià)測(cè)試或恒定運(yùn)行測(cè)試相合。
產(chǎn)品型號(hào)：HCCT-40H廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時(shí)間：2026-05-29訪 問(wèn) 量：411產(chǎn)品分類
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| 品牌 | 華測(cè)儀器 | 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,航空航天,汽車及零部件,電氣,綜合 |
華測(cè)儀器HCCT-40H電容器溫度 - 頻率特性評(píng)估系統(tǒng)
價(jià)格僅供參考，如需獲取更詳盡的產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格書(shū)、定制方案或應(yīng)用案例，歡迎致電我司技術(shù)工程師
HCCT-40H電容器溫度 - 頻率特性評(píng)估系統(tǒng)由華測(cè)儀器生產(chǎn)，是將環(huán)境試驗(yàn)箱與評(píng)估系統(tǒng)相結(jié)合，效率采集數(shù)據(jù)的自動(dòng)化多通道系統(tǒng)。儀器自動(dòng)評(píng)估高溫和高溫/高濕環(huán)境下電容器的絕緣退化特性。該系統(tǒng)穩(wěn)定可靠，適用于包括多層陶瓷電容器（MLCC）、陶瓷電容、薄膜電容等多種類型的電容器。
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
1、可從不同測(cè)試模式選擇
溫度特性評(píng)價(jià)試驗(yàn)、恒定運(yùn)行試驗(yàn)和頻率特性試驗(yàn)。測(cè)試可與溫度特性評(píng)價(jià)測(cè)試或恒定運(yùn)行測(cè)試結(jié)合。
溫度特性評(píng)估測(cè)試：在此測(cè)試模式下，自動(dòng)記錄特性數(shù)據(jù)，與溫度變化同步，頻率步數(shù)201步（范圍可定制）；
持續(xù)運(yùn)行測(cè)試：測(cè)試模式測(cè)量以下參數(shù)的變化特定中隨時(shí)間推移的特征自動(dòng)記錄數(shù)據(jù)；
頻率特性評(píng)價(jià)試驗(yàn)：試驗(yàn)?zāi)Ｊ皆谔囟囟拳h(huán)境下改變頻率的同時(shí)，自動(dòng)記錄不同頻率下的特性數(shù)據(jù)。
2、多種可選夾具適用于不同的試驗(yàn)樣本（可選）
除了SMD組件的夾具外，根據(jù)提供離散設(shè)備形狀定制的夾具。
產(chǎn)品參數(shù)
測(cè)量方法：交流四端對(duì)測(cè)量
直流偏壓：0~±40V
溫度測(cè)量間隔：1 ℃
掃描周期：64通道可在1min之內(nèi)完成
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