華測(cè)儀器SIR-450寬溫域絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)

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SIR-450寬溫域絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)由華測(cè)儀器生產(chǎn)，高低溫環(huán)境下的絕緣電阻測(cè)試技術(shù)用于預(yù)測(cè)EMC的HTRB性能。電介質(zhì)樣品暴露在高電場(chǎng)強(qiáng)度和高溫環(huán)境下，在這種情況下，高分子聚合物材料在高溫環(huán)境下具有負(fù)阻性的特征，電阻（率）隨著溫度的上升而下降，HTRB性能之間的相關(guān)性表明，隨著溫度的上升電阻率越下降嚴(yán)重，而HTRB性能越差，因此，材料的電阻率是HTRB失效測(cè)量的手段。

產(chǎn)品參數(shù)

溫度范圍：-100~350°C

控溫精度：0.5°C

升溫斜率：10℃/min（可設(shè)定）

電阻：1×10¹⁶Ω

電阻率：1×10³Ω~1×10¹⁶Ω

輸入電壓：220V

樣品尺寸：φ＜25mm，d＜4mm

電極材料：黃銅

夾具輔助材料：99氧化鋁陶瓷

絕緣材料：99氧化鋁陶瓷

測(cè)試功能：高低溫電阻率

數(shù)據(jù)傳輸：RS-232

支持的硬件

1.多核高性能處理器

2.集成打印接口，可擴(kuò)充8個(gè)USB接口

3.支持16g內(nèi)存，250g固態(tài)硬盤(pán)

多種加溫方式

勻速度加熱試驗(yàn)

階梯式加熱試驗(yàn)

熱循環(huán)試驗(yàn)（僅供反射爐）

降溫試驗(yàn)

加速度升溫（僅供反射爐）