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簡(jiǎn)要描述：華測(cè)儀器HCCT-40H電容器溫度特性測(cè)試系統(tǒng)是將環(huán)境試驗(yàn)箱與評(píng)估系統(tǒng)相結(jié)合，效率采集數(shù)據(jù)的自動(dòng)化多通道系統(tǒng)。
產(chǎn)品型號(hào)：HCCT-40H廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時(shí)間：2026-03-26訪 問 量：578產(chǎn)品分類
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| 品牌 | 華測(cè)儀器 | 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,航空航天,汽車及零部件,電氣,綜合 |
HCCT-40H電容器溫度特性測(cè)試系統(tǒng)
價(jià)格僅供參考，如需獲取更詳盡的產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格書、定制方案或應(yīng)用案例，歡迎致電我司技術(shù)工程師
HCCT-40H電容器溫度特性測(cè)試系統(tǒng)由華測(cè)儀器生產(chǎn)，系統(tǒng)通過準(zhǔn)確控制溫度環(huán)境，并測(cè)量電容器在不同溫度下的關(guān)鍵參數(shù)（如電容量（C）、損耗因子（D）和阻抗（Z）等參數(shù)值），從而評(píng)估其溫度特性。該系統(tǒng)穩(wěn)定可靠，適用于包括多層陶瓷電容器（MLCC）、陶瓷電容、薄膜電容等各種類型的電容器。
產(chǎn)品參數(shù)
測(cè)量項(xiàng)目：電容量 (C)、損耗系數(shù) (D)、阻抗 (Z)、電阻 (Rs，Rp) 和電感 (Ls，Lp)
測(cè)試方法：溫度特性評(píng)價(jià)試驗(yàn)
恒定運(yùn)行檢測(cè)
頻率特性評(píng)價(jià)試驗(yàn)
通道配置：8通道（標(biāo)準(zhǔn)）；至多64通道可擴(kuò)展8通道增量
測(cè)量方法：交流四端對(duì)測(cè)量
測(cè)量范圍：測(cè)量頻率：20 Hz ~ 1 MHz
電容量(C)：50 pF ~ 5 mF
損失因子(D)：0.00001 ~ 9.99999
阻抗(Z)：0.00001Ω ~ 99.9999 MΩ
直流偏壓：0 ~ ±40V
溫度測(cè)量間隔：1 ℃
掃描周期：64通道可在1min之內(nèi)完成
頻率步長(zhǎng)：201步（范圍可定制）
補(bǔ)償：短時(shí)補(bǔ)償，開放補(bǔ)償
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