,,

當前位置：首頁 > 產品中心 > 新品推薦 >

產品分類

Product Category

新品推薦

原位拉伸臺原位光學冷熱臺高溫油浴表面體積電阻率測試儀非接觸式靜電電壓表多功能任意波高壓薄膜極化裝置真空晶圓退火爐電阻分壓器高壓探頭低頻、變頻電壓擊穿試驗儀絕緣電阻測試系統(tǒng) 多通道電流矩陣模塊高壓功率放大器鐵電分析儀塞貝克系數電阻測試儀先進功能材料電測綜合測試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統(tǒng) 儲能新材料電學綜合測試系統(tǒng) 半導體封裝材料真空探針臺空間電荷測試系統(tǒng) 電容器溫度特性評估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電多通道極化裝置絕緣電阻率測試儀高低溫冷熱臺測試系統(tǒng) 50點耐壓測試儀電壓擊穿測定儀耐電弧試驗儀探針臺漏電起痕試驗儀多通道介電與電阻測試系統(tǒng)

查看全部

HCMP多通道介電絕緣電阻測試模塊

更新時間：2026-03-24

型號：HCMP

瀏覽量：339

華測儀器HCMP多通道介電絕緣電阻測試模塊此測試模塊精度高、穩(wěn)定性強、實現智能化與自動化、可靠耐用、模塊化設計，可用于多通道介電與電阻測量，使其在材料科學、新能源、半導體領域中被普遍應用。
了解詳情
HuacePEA 空間電荷測試系統(tǒng)

更新時間：2026-03-23

型號：Huace

瀏覽量：410

華測儀器PEA 空間電荷測試系統(tǒng)電聲脈沖法是一種無損的空間電荷測量技術，它用于描述聚合物絕緣材料內部的空間電荷分布、積累及其整體行為。
了解詳情
HC-RD-1100熱電材料Seebeck 系數電阻測試儀

更新時間：2026-03-20

型號：HC-RD-1100

瀏覽量：435

華測儀器HC-RD-1100熱電材料Seebeck 系數電阻測試儀測量半導體、方鈷礦等熱電材料的塞貝克系數與電導率，計算ZT值(熱電優(yōu)值)；評估材料在高溫或特定環(huán)境(真空/還原氣氛)下的熱電轉換效率。
了解詳情
Huace絕緣材料離子遷移評估系統(tǒng)

更新時間：2026-03-20

型號：Huace

瀏覽量：420

華測儀器絕緣材料離子遷移評估系統(tǒng)，離子遷移是電子設備失效機制之一，指電路板上的銅、銀、錫等金屬離子在高溫高濕及電場作用下發(fā)生離子化，通過絕緣層向另一極遷移，而導致絕緣性能下降、短路等故障。
了解詳情
HCDJC-1F變頻耐壓擊穿試驗系統(tǒng)

更新時間：2026-04-07

型號：HCDJC-1F

瀏覽量：429

華測儀器HCDJC-1F變頻耐壓擊穿試驗系統(tǒng)可測試絕緣材料在變頻電壓工況下的擊穿強度、耐電壓時間等指標。
了解詳情
Huace多通道離子遷移評估系統(tǒng)

更新時間：2026-03-19

型號：Huace

瀏覽量：396

華測儀器多通道離子遷移評估系統(tǒng)離子遷移是指電路板上的金屬如銅、銀、錫等在一定條件下發(fā)生離子化并在電場作用下通過絕緣層向另一極遷移而導致絕緣性能下降。
了解詳情
HCDJC-1F5kV變頻電壓擊穿試驗儀

更新時間：2026-03-19

型號：HCDJC-1F

瀏覽量：438

華測儀器HCDJC-1F 5kV變頻電壓擊穿試驗儀是絕緣材料電氣性能檢測用升級設備，適配電力、電子、材料研發(fā)等行業(yè)，可測試絕緣材料在變頻電壓工況下的擊穿強度、耐電壓時間等指標。
了解詳情
HC-RD-1100Seebeck 系數電阻測試儀

更新時間：2026-03-17

型號：HC-RD-1100

瀏覽量：415

華測儀器HC-RD-1100Seebeck 系數電阻測試儀可自動完成信號激勵、數據采集、實時處理及結果輸出全流程，并通過可視化界面直觀呈現測試成果，提升了操作便捷性與測試效率。
了解詳情

共 191 條記錄，當前 11 / 24 頁首頁上一頁下一頁末頁跳轉到第頁