計(jì)算機(jī)控制電弱點(diǎn)測試儀器HCRD-300
更新時(shí)間:2025-04-07
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計(jì)算機(jī)控制電弱點(diǎn)測試儀器HCRD-300:
該儀器是根據(jù)薄膜的使用寬度進(jìn)行電弱點(diǎn)的測試,測試寬度可根據(jù)用戶的要求而設(shè)定,無須將膜分切成小卷,免除了許多外來因素對測試結(jié)果的影響。測試數(shù)據(jù)能真實(shí)地反映薄膜的質(zhì)量水平。有效地保證了設(shè)備的可靠性、耐用性和穩(wěn)定性。測量準(zhǔn)確,復(fù)現(xiàn)性好。測試過程采用電子技術(shù)全自動(dòng)控制,遇到電弱點(diǎn)時(shí)電壓切斷動(dòng)作迅速。擊穿電流在0~40mA連續(xù)可調(diào),復(fù)現(xiàn)性好。
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