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產品分類
Product Category詳細介紹
| 品牌 | 華測儀器 | 產地類別 | 國產 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 能源,航空航天,汽車及零部件,電氣,綜合 |
華測儀器HCRD-300L薄膜電弱點測試系統
價格僅供參考，如需獲取更詳盡的產品技術規格書、定制方案或應用案例，歡迎致電我司技術工程師
HCRD-300L薄膜電弱點測試系統由華測儀器生產，該系列產品的主要特點是能根據薄膜的使用寬度進行電弱點的測試，測試寬度可根據用戶的要求而設定，無須將膜分切成小卷，免除了許多外來因素對測試結果的影響。測試數據能真實地反映薄膜的質量水平。具有可靠性、耐用性和穩定性，測試過程采用電子技術全自動控制，遇到電弱點時電壓切斷動作迅速，擊穿電流在0～40mA連續可調，復現性好。
產品參數
可放置卷芯長度：30~1800mm
試驗電壓精度：≤2%
測試電壓：DC：50V~6kV AC：50V~5kV
電壓精度：2%
厚度范圍：450mm
產品移動速度：3-10m/min 連續可調
軟件功能
操作系統：支持XP，win7,win8系統，操作人性化；
實時監測：在實驗過程中可以動態顯示電弱點數量、膜移動距離等；
數據導出：試驗結果方便導出。
實驗報告：自定義報告名稱，并對實驗報告進行打??；
試驗方式：直流試驗和交流試驗、進行選擇；
參數設置：可以根據不同的試驗方式及試驗方法靈活設置所需的不同參數值；
校準功能：可針對設備進行校準設置；
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