
簡(jiǎn)要描述:低壓TSDC測(cè)試系統(tǒng)用于檢測(cè)材料在長(zhǎng)期運(yùn)行中積累的空間電荷,評(píng)估其絕緣劣化程度;在新型儲(chǔ)能材料開(kāi)發(fā)中,可揭示離子遷移與界面極化行為;在高分子物理研究中,有助于識(shí)別α、β、γ等多重弛豫過(guò)程。
產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
| 品牌 | 華測(cè)儀器 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣,綜合 |
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一、概述
低壓TSDC測(cè)試系統(tǒng) TSDC熱刺激電流去極化測(cè)試系統(tǒng)(Thermally Stimulated Depolarization Current Measurement System)是一種用于研究電介質(zhì)材料內(nèi)部極化行為與陷阱能級(jí)分布的電學(xué)測(cè)試設(shè)備。該系統(tǒng)基于熱刺激去極化電流原理,通過(guò)在受控溫度條件下測(cè)量材料在極化后釋放的電流信號(hào),獲取其介電弛豫、空間電荷、偶極子取向及缺陷態(tài)等關(guān)鍵物理信息。
二、測(cè)試過(guò)程
低壓TSDC測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試過(guò)程分為三個(gè)階段:極化、凍結(jié)和去極化。首先,在特定溫度和電場(chǎng)下對(duì)樣品進(jìn)行極化,使材料內(nèi)部偶極子定向排列或載流子注入形成空間電荷;隨后迅速降溫至低溫,將極化狀態(tài)“凍結(jié)";最后以恒定速率升溫,同時(shí)實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)樣品兩端釋放的去極化電流。所得TSDC譜圖以電流為縱軸、溫度為橫軸,不同峰位對(duì)應(yīng)不同的弛豫機(jī)制或陷阱能級(jí)。通過(guò)對(duì)峰形、峰溫、峰面積的分析,可計(jì)算出活化能、弛豫時(shí)間、陷阱密度等參數(shù)。
三、應(yīng)用
TSDC可用于檢測(cè)材料在長(zhǎng)期運(yùn)行中積累的空間電荷,評(píng)估其絕緣劣化程度;在新型儲(chǔ)能材料開(kāi)發(fā)中,可揭示離子遷移與界面極化行為;在高分子物理研究中,有助于識(shí)別α、β、γ等多重弛豫過(guò)程。
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