表面電位衰減測試系統：電介質材料電荷陷阱特性準確表征方案

華測儀器表面電位衰減測試系統，是用于電介質材料靜電衰減特性表征的測試設備，可進行材料表面電位的極化、監測與數據分析，普遍應用于 XLPE 交聯絕緣、電纜絕緣材料、功能薄膜等絕緣材料研發與性能評估。

系統搭載±30kV 高壓極化電源，電壓穩定度≤0.1%/h，確保極化過程輸出電壓穩定，減少測試擾動；集成室溫至 160℃高準度溫控平臺，控溫精度可達 ±0.2℃，同時配備濕度可調電極箱體，能夠復現不同溫濕度耦合工況，模擬材料實際工況環境。設備電極間隙 0~100mm 連續可調，可靈活適配薄膜、片材等多種形態試樣。

配置 ±10kV 電位采集單元，擁有 1V 測量分辨率，5~20ms 高速響應能力，準確捕捉表面電位快速動態變化過程。配套華測儀器測試軟件，可自動采集、存儲測試數據，展示電位衰減曲線，并支持提取電荷陷阱分布等關鍵參數，為絕緣材料改性、老化機理研究、線纜材料配方優化提供穩定可靠的試驗數據支撐。