華測儀器熱釋電系數(shù)測試儀基于電荷積分法測試原理，搭載高阻抗微弱信號采集模塊，測試靈敏度可達 0.1mV，可準確捕捉樣品在變溫過程中產(chǎn)生的微弱熱釋電電荷信號。設(shè)備可自動分析熱釋電系數(shù)隨溫度、時間的變化曲線，直接輸出熱釋電圖譜，直觀表征材料熱釋電響應(yīng)特性。整機采用直流電極加熱方案，可減少傳統(tǒng)油浴加熱引入的雜散電荷干擾，優(yōu)化測試數(shù)據(jù)穩(wěn)定性。溫度覆蓋室溫至 600℃，控溫精度 ±0.5℃，升降溫速率可在 1~5℃/min 區(qū)間可設(shè)定。

樣品適配性強，可支持圓片、方塊、長條、薄膜等多種規(guī)格試樣測試，普遍應(yīng)用于鐵電、壓電功能材料及相關(guān)元器件的性能檢測、機理研究與產(chǎn)品評價。