華測儀器高溫介電溫譜測試儀搭載多功能近紅外加熱爐，能夠?qū)崿F(xiàn)高溫、真空、可控氣氛多種工況下的電學(xué)性能測試。設(shè)備對測試引線進(jìn)行優(yōu)化，配置高頻測試線纜，可減少高頻測試過程中的信號衰減問題，整機(jī)電磁抗干擾性能得到優(yōu)化。

系統(tǒng)配套華測儀器自研測試軟件，界面操作便捷，支持測試參數(shù)自定義配置。設(shè)備溫度區(qū)間覆蓋室溫~1450℃，采用高準(zhǔn)度 PID 閉環(huán)溫控方案，控溫波動優(yōu)于 ±0.25℃；可設(shè)定升溫速率、恒溫時(shí)長、測量頻率、采集間隔等試驗(yàn)條件。測試過程中曲線實(shí)時(shí)可視化展示，原始測試數(shù)據(jù)支持多種格式導(dǎo)出，便于后續(xù)數(shù)據(jù)處理與分析。

設(shè)備支持真空腔體、氣氛保護(hù)模塊選配，可開展介電溫譜、介電頻譜、阻抗譜等多種電學(xué)表征測試，普遍適用于鐵電材料、壓電陶瓷、絕緣介質(zhì)、復(fù)合電介質(zhì)等多種功能材料的性能表征，滿足高校、科研院所、企業(yè)研發(fā)等材料電學(xué)性能隨溫度演變規(guī)律的研究需求。