華測(cè)儀器 HCMP 多通道介電電阻測(cè)試模塊是為多試樣同步介電、絕緣電阻批量檢測(cè)打造，設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)配置 10 路單獨(dú)的測(cè)試通道，通道數(shù)量可依據(jù)客戶需求進(jìn)行定制擴(kuò)容，適配不同量級(jí)批量測(cè)試需求。

每一路通道均可單獨(dú)自定義測(cè)試頻率與測(cè)量量程，配套一鍵式開(kāi)短路自動(dòng)補(bǔ)償功能，能減少線路雜散參數(shù)帶來(lái)的測(cè)量誤差，優(yōu)化大批量樣品連續(xù)檢測(cè)的整體測(cè)試效率。 模塊搭載高速光耦繼電器組件，單通道切換時(shí)間僅 1ms，全通道連續(xù)掃描無(wú)信號(hào)延遲，檢測(cè)流程連貫順暢；整機(jī)實(shí)現(xiàn)各通道電氣分隔，通道間絕緣電阻可達(dá) 100TΩ，高阻、低阻樣品同步并行測(cè)試互不干擾，避免數(shù)據(jù)相互影響。

靜電電容僅 0.2pF，減少通道間串?dāng)_效應(yīng)，長(zhǎng)時(shí)間測(cè)量高阻參數(shù)、介電損耗值穩(wěn)定無(wú)漂移，數(shù)據(jù)重復(fù)性優(yōu)異。設(shè)備支持1000V測(cè)試電壓，可滿足多種高壓絕緣基材、功能介質(zhì)材料的耐壓介電性能檢測(cè)，通用性強(qiáng)。

硬件接口兼容面主流阻抗分析儀、數(shù)字高阻計(jì)、LCR 數(shù)字電橋等測(cè)試主機(jī)，適配多套測(cè)試系統(tǒng)升級(jí)拓展；內(nèi)置自動(dòng)循環(huán)掃描、測(cè)量數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)本地存儲(chǔ)、連續(xù)記錄等智能測(cè)控功能，無(wú)需人工值守。 產(chǎn)品普遍應(yīng)用于新材料研發(fā)、半導(dǎo)體封裝介質(zhì)、等新能源與電子材料領(lǐng)域，是材料電學(xué)性能批量表征的配套模塊。