在電子元器件領(lǐng)域，溫變環(huán)境易引發(fā)電容器參數(shù)漂移、性能衰減，因此溫度相關(guān)測(cè)試是判定產(chǎn)品可靠性的關(guān)鍵標(biāo)準(zhǔn)。華測(cè)儀器HCCT-40H電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng)，集成高準(zhǔn)度測(cè)量與多工況模擬能力，滿足標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)需求。

系統(tǒng)標(biāo)配8測(cè)試通道，可拓展至64通道，多通道并行架構(gòu)可滿足大批量試樣同步檢測(cè)，可縮短測(cè)試周期，優(yōu)化檢測(cè)效率。采用交流四端對(duì)測(cè)量技術(shù)，能規(guī)避引線阻抗、接觸電阻帶來(lái)的干擾，測(cè)試頻率20Hz~1MHz，對(duì)電容量、介質(zhì)損耗、等效阻抗等參數(shù)實(shí)現(xiàn)靈敏度檢測(cè)，準(zhǔn)確識(shí)別微小性能變化。

設(shè)備集成三類標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試模式，且支持自定義配置與模式聯(lián)用：

溫度特性測(cè)試：配合溫變環(huán)境，全程同步監(jiān)測(cè)參數(shù)隨溫度的變化趨勢(shì)，頻率測(cè)試點(diǎn)默認(rèn)201步，參數(shù)范圍、步進(jìn)數(shù)量支持定制；

恒定運(yùn)行測(cè)試：模擬實(shí)際服役環(huán)境進(jìn)行長(zhǎng)期老化測(cè)試，量化評(píng)估產(chǎn)品耐久性能與工作穩(wěn)定性；

頻率特性測(cè)試：全頻段掃描分析，獲取器件完整頻響特性曲線。

一機(jī)實(shí)現(xiàn)多項(xiàng)試驗(yàn)需求，集成數(shù)據(jù)采集、記錄、分析等功能，適配產(chǎn)品研發(fā)定型、出廠質(zhì)控、可靠性檢測(cè)等業(yè)務(wù)場(chǎng)景。設(shè)備兼容 MLCC、陶瓷電容、薄膜電容等多種主流電容器，契合電子、工控、汽車電子、通信等領(lǐng)域的測(cè)試規(guī)范與應(yīng)用要求。